1.

国際会議録

国際会議録
K. Mann ; U. Leinhos ; B. Schäfer
出版情報: 38th Annual Boulder Damage Symposium : proceedings : laser-induced damage in optical materials, 2006 : 25-27 September, 2006, Boulder, Colorado.  pp.64031J-1-64031J-10,  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6403
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
G. McTaggart-Cowan ; K. Mann ; N. Wu ; S. Munshi
出版情報: 2014 SAE world congress : technical paper.  2014.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2014
3.

国際会議録

国際会議録
A. Bayer ; F. Barkusky ; C. Peth ; H. Tottger ; K. Mann
出版情報: Photon processing in microelectronics and photonics VI : 22-25 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6458
4.

国際会議録

国際会議録
B. Schafer ; K. Mann
出版情報: Laser resonators and beam control IX : 22-24 January, 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6452
5.

国際会議録

国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; J. Gloger ; U. Leinhos ; T. Rousseau
出版情報: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2008.  pp.71321F-1-71321F-11,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7132
6.

国際会議録

国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; U. Leinhos ; T. Miege ; B. Schäfer
出版情報: Optical Microlithography XXI.  2  pp.69242P-1-69242P-10,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6924
7.

国際会議録

国際会議録
F. Barkusky ; A. Bayer ; C. Peth ; H. Toettger ; K. Mann
出版情報: Damage to VUV, EUV, and X-ray optics : 18-19 April 2007,Prague, Czech Republic.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6586
8.

国際会議録

国際会議録
F. Barkusky ; A. Bayer ; C. Peth ; K. Mann
出版情報: Photon processing in microelectronics and photonics VII : 21-24 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.68791M-1-68791M-10,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6879
9.

国際会議録

国際会議録
K. Mann ; A. Bayer ; T. Miege ; U. Leinhos ; B. Schäfer
出版情報: Laser-induced damage in optical materials : 2007 : 39th Annual Boulder Damage Symposium : proceedings : 24-26 September, 2007, Boulder, Colorado.  pp.67201B-1-67201B-10,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6720