1.

国際会議録

国際会議録
S. Tang ; R. E. Bills ; K. Freischlad
出版情報: Optical manufacturing and testing VII : 28-29 August 2007, San Diego, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6671
2.

国際会議録

国際会議録
S. Tang ; R. E. Bills ; K. Freischlad
出版情報: Optical test and measurement technology and equipment.  1  pp.67230F-1-67230F-10,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6723
3.

国際会議録

国際会議録
S. Tang ; K. Freischlad ; P. Yam
出版情報: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies III : 28-29 August 2007, San Diego, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6672
4.

国際会議録

国際会議録
K. Freischlad ; S. Tang ; J. Grenfell
出版情報: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies III : 28-29 August 2007, San Diego, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6672