1.

国際会議録

国際会議録
Barefoot, A.C. ; Clay, V.E. ; Hendley, P. ; Jones, R.L.
出版情報: Terrestrial field dissipation studies : purpose, design, and interpretation.  pp.1-13,  2003.  Washington, D.C..  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 842
2.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Parsons, R.G. ; Gatzweiler, E.W. ; Wicks, R.J. ; Leake, C.R.
出版情報: The lysimeter concept : environmental behavior of pesticides.  pp.203-212,  1998.  Washington, DC.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 699
3.

国際会議録

国際会議録
Vogt, B.D. ; Soles, C.L. ; Prabhu, V.M. ; Jones, R.L. ; Wu, W.-L. ; Lin, E.K. ; Goldfarb, D.L. ; Angelopoulos, M.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XXI.  pp.56-62,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5376
4.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Byers, J.D. ; Conley, W.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII.  1  pp.663-673,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5038
5.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Hu, T. ; Lin, E.K. ; Wu, W. ; Casa, D.M. ; Orji, N.G. ; Vorburger, T.V. ; Bolton, P.J. ; Barclay, G.G.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII.  1  pp.191-199,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5038
6.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Byers, J.D.
出版情報: Optical Microlithography XVI.  Part Two  pp.1035-1043,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5040
7.

国際会議録

国際会議録
Lin, E.K. ; Jones, R.L. ; Wu, W.-L. ; Barker, J.G. ; Bolton, P.J. ; Barclay, G.G.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI.  Part One  pp.541-548,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4689
8.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Mack, C.A. ; Byers, J.D.
出版情報: Optical Microlithography XV.  Part Two  pp.1232-1242,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4691
9.

国際会議録

国際会議録
Jones, R.L. ; Soles, C.L. ; Starr, F.W. ; Lin, E.K. ; Lenhart, J.L. ; Wu, W.-L. ; Goldfarb, D.L. ; Angelopoulos, M.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XIX.  Part One  pp.342-350,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4690
10.

国際会議録

国際会議録
Lin, E.K. ; Soles, C.L. ; Goldfarb, D.L. ; Trinque, B.C. ; Burns, S.D. ; Jones, R.L. ; Lenhart, J.L. ; Angelopoulos, M. ; Willson, C.G. ; Satija, S.K. ; Wu, W.-L.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XIX.  Part One  pp.313-320,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4690