1.

国際会議録

国際会議録
Nafis, S. ; Ianno, N.J. ; Snyder, Paul G. ; Woollam, John A. ; Johs, Blaine
出版情報: Beam-solid interactions : fundamentals and applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.819-824,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 279
2.

国際会議録

国際会議録
Yao, Huade ; Johs, Blaine
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.341-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302
3.

国際会議録

国際会議録
Herzinger, Craig ; Johs, Blaine ; Chow, Peter ; Reich, Dave ; Carpenter, Greg ; Croswell, Dan ; Hove, Jim Van
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.347-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 406
4.

国際会議録

国際会議録
Woollam, John A. ; Johs, Blaine ; McGahan, William A. ; Snyder, Paul G. ; Hale, Jeffrey ; Yao, Huade Walter
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.15-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324