1.

国際会議録
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1. A High-Sensitivity Combustible Gas Monitor Based on Dual Metal Oxide Semiconductor Sensors
Oh, S. ; Johnson, K.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Chemical and Biological Sensors and Analytical Electrochemical Methods.  pp.770-778,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-19
2.

国際会議録
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2. In-vivo detection of pre-cancerous changes in Barrett's esophagus using elastic scattering spectroscopy (ESS) [5862-11]
Clark, B. R ; Johnson, K. ; Mackenzie, G. D. ; Novelli, M. R. ; Selvasekar, C. R. ; Thorpe, S., M. ; Bown, S. G. ; Lavat, L. B. ; Bigio, I. J.
出版情報: Diagnostic optical spectroscopy in biomedicine III : 12-16 June 2005, Munich, Germany.  pp.58620B-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5862
3.

国際会議録
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3. III-V Power Amplifiers
Johnson, K.
出版情報: Compound semiconductor power transistors and : State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XXIX).  pp.1-9,  1998.  Pennington, N. J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-12
4.

国際会議録
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4. Alkylation of toluene with methanol on heteropoly compounds: p-xylene slectivity
Johnson, K. ; Viswanathan, B. ; Varadarajan, T. K.
出版情報: Recent advances in basic and applied aspects of industrial catalysis : proceedings of 13th National Symposium and Silver Jubilee Symposium of Catalysis of India, Dehradun, India, April 2-4, 1997.  pp.233-,  1998.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 113
5.

国際会議録
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5. Elastic scattering spectroscopy in the diagnosis of pigmented lesions: comparison with clinical and histopathological diagnosis
Scarisbrick, J.J. ; Pickard, C.D.O. ; Lee, A.C. ; Briggs, G.M. ; Johnson, K. ; Bown, S.G. ; Novelli, M. ; Keshtgar, M.R.S. ; Bigio, I.J. ; Yu, R.
出版情報: Diagnostic optical spectroscopy in biomedicine II : 24-25 June 2003, Munich, Germany.  pp.147-156,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5141
6.

国際会議録
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6. (3.5) 5:00 - 5:20 PM - Mobility Enhancement in Compressively Strained SiGe Surface Channel pMOS(FET) with HfO2/TiN Gate Stack
Jin, B. ; Datta, S. ; Dewey, G. ; Doczy, M. ; Doyle, B.S. ; Johnson, K. ; Kavalieros, J. ; Metz, M. ; Zelick, N. ; Chau, R.(Intel)
出版情報: SiGe: materials, processing, and devices : proceedings of the First international symposium.  pp.111-122,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-07
7.

国際会議録
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7. Three-dimensional ladar focal plane array development at Rockwell Scientific: an update
Vaidyanathan, M. ; Xue, S. ; Johnson, K. ; Blackwell, J. ; Zandian, M. ; Hanyaloglu, B. ; Kozlowski, L. ; Hughes, G. ; Montroy, J. ; Vural, K.
出版情報: Laser radar technology and applications VIII : 22-25 April 2003, Oriando, Florida, USA.  pp.39-46,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5086
8.

国際会議録
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8. Latest developments in Blue-Violet Laser Diodes Grown by Molecular Beam Epitaxy
Bousquet, V. ; Kauer, M. ; Johnson, K. ; Zellweger, C. ; Hooper, S. E. ; Heffernan, J.
出版情報: GaN, AIN, InN and their alloys : symposium held November 29-December 3, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.15-20,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 831
9.

国際会議録
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9. EFFECTS OF SEQUENTIAL CHEMISTRIES ON PARTICLE REMOVAL
Christenson, K.K. ; Smith, S.M. ; Nelson, S. ; Carison, B. ; Bode, C. ; Johnson, K.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.567-574,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-20
10.

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10. EFFECTS OF SC-1 DILUTION AND TEMPERATURE ON VARIOUS PARTICLE REMOVAL CHALLENGES
Christenson, K.K. ; Smith, S.M. ; Bode, C. ; Johnson, K.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.597-604,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-20