1.

国際会議録
国際会議録
1. MEASURING FATIGUE IN PZT THIN FILMS
Johnson, D.J. ; Amm, D.T. ; Griswold, E. ; Sreenivas, K. ; Yi, G. ; Sayer, M.
出版情報: Ferroelectric thin films : symposium held April 16-20, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.289-296,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 200
2.

国際会議録
国際会議録
2. CHARACTERIZATION OF LEAD ZIRCONATE TITANATE (PZT)-INDIUM TIN OXIDE (ITO) THIN FILM INTERFACE
Sreenivas, K. ; Sayer, M. ; Laursen, T. ; Whitton, J.L. ; Pascual, R. ; Johnson, D.J. ; Amm, D.T. ; Sproule, G.I. ; Mitchell, D.F. ; Graham, M.J. ; Gujrathi, S. C. ; Oxorn, K.
出版情報: Ferroelectric thin films : symposium held April 16-20, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.255-260,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 200
3.

国際会議録
国際会議録
3. Inductively-Coupled Plasma Deposition of Low Temperature Silicon Dioxide and Silicon Nitride Films for III-V Applications
Mackenzie, K.D. ; Lee, J.W ; Johnson, D.J.
出版情報: Proceedings of the State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCs XXX).  pp.1-12,  1999.  Pennington, N. J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-4
4.

国際会議録
国際会議録
4. Stress Control of Si-Based PECVD Dielectrics
Mackenzie, K.D. ; Johnson, D.J. ; DeVre, M.W. ; Westerman, R.J. ; Reelfs, B.H.
出版情報: Silicon nitride, silicon dioxide thin insulating films, and other emerging dieletrics VIII : proceedings of the international symposium.  pp.148-159,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-01
5.

国際会議録
国際会議録
5. Comparison of endpoint methods in advanced photomask etch applications
Johnson, D.J. ; Plumhoff, J. ; Shin, J. ; Rausa, E.
出版情報: 22nd Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  Part One  pp.40-49,  2002.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4889