1.

国際会議録

国際会議録
D'Amico,J. ; Jastrzebski,L. ; Wilson,M. ; Savtchouk,A.
出版情報: In-Line Methods and Monitors for Process and Yield Improvement.  pp.124-135,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3884
2.

国際会議録

国際会議録
Jastrzebski,L. ; Edelman,P. ; Lagowski,J.J. ; Hoff,A.M. ; Savchouk,A. ; Persson,E.
出版情報: Optical characterization techniques for high-performance microelectronic device manufacturing III.  pp.207-217,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2877
3.

国際会議録

国際会議録
Edelman,P. ; Savchouk,A. ; Wilson,M. ; Jastrzebski,L. ; Lagowski,J.J. ; Nauka,K. ; Ma,S. ; Hoff,A.M. ; DeBusk,D.K.
出版情報: In-Line Characterization Techniques for Performance and Yield Enhancement in Microelectronic Manufacturing II :23-24 September 1998 Santa Clara, California.  pp.126-136,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3509
4.

国際会議録

国際会議録
Burke,P. ; Lowell,J.K. ; Jastrzebski,L.
出版情報: Optical Characterization Techniques for High-P6rfo「nwic6 Microelectronic Device Manufacturing II.  pp.27-37,  1995.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2638
5.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko,S. ; Koshka,Y. ; Jastrzebski,L. ; Smeltzer,R.K.
出版情報: Active matrix liquid crystal displays technology and applications : 10-11 February, 1997, San Jose, California.  pp.176-183,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3014
6.

国際会議録

国際会議録
Marinskiy,D.N. ; Lagowski,J.J. ; Wilson,M. ; Jastrzebski,L. ; Santiesteban,R. ; Elshot,K.
出版情報: Process Control and Diagnostics.  4182  pp.72-77,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4182
7.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko,S.S. ; Savchuk,A.U. ; Nowak,G. ; Lagowski,J. ; Jastrzebski,L.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1897-1902,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201