1.

国際会議録

国際会議録
D. S. Shin ; M. S. Chung ; S. B. Hwang ; J. S. Park
出版情報: Medical imaging 2007, Visualization and image-guided procedures : 18-20 February 2007, San Diego, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6509
2.

国際会議録

国際会議録
T. Reissman ; J. S. Park ; E. Garcia
出版情報: Active and passive smart structures and integrated systems 2008.  pp.692806-1-692806-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6928
3.

国際会議録

国際会議録
X. Chen ; D. W. Lee ; J. S. Park
出版情報: Optical test and measurement technology and equipment.  3  pp.672364-1-672364-6,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6723
4.

国際会議録

国際会議録
S.H. Lee ; J. H. Kim ; J. S. Park ; S. J. Park ; Y. S. Jung
出版情報: Medical imaging 2008.  2  pp.69152D-1-69152D-10,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6915
5.

国際会議録

国際会議録
J. S. Park ; B. H. Nam
出版情報: ICMIT 2007, mechatronics, MEMS, and smart materials.  2  pp.679444-1-679444-6,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6794
6.

国際会議録

国際会議録
S. Hong ; G. Onushkin ; J. S. Park ; B. K. Kim ; D. Lee ; A. Fomin ; K. Ko ; J. W. Kim
出版情報: Gallium nitride materials and devices II : 22-25 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6473
7.

国際会議録

国際会議録
J. S. Park ; E J. Jung ; M. Y. Jeong ; C.-S. Kim ; J. U. Kang
出版情報: Endoscopic microscopy III : 20-21 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.68510I-1-68510I-6,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6851