1.

国際会議録

国際会議録
C. J. Zhuang ; Q. R. Ma ; Y. R. Feng ; J. Kang
出版情報: Pipeline Technology : presented at the 18th International Conference on Offshore Mechanics and Arctic Engineering, July 11-16, 1999, St. John's, Newfoundland, Canada.  4  pp.67-72,  1999.  New York.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号: OMAE 18(4)
2.

国際会議録

国際会議録
D.-J. Kim ; J. Kang ; Y. Kim
出版情報: Proceedings of the ALOS PI 2008 Symposium, 3-7 November 2008, Island of Rhodes, Greece.  2009.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Communication Production Office
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 664
3.

国際会議録

国際会議録
Y. Zhang ; D. Li ; Z. Wu ; J. Zheng ; X. Lin ; H. Zhan ; S. Li ; J. Kang ; J. Bleuse ; L. Grenet ; D. Rapisarda ; H. Mariette
出版情報: Compound semiconductors for generating, emitting, and manipulating energy : symposium held November 28-December 2, 2011, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.87-92,  2012.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 1396
4.

国際会議録

国際会議録
S. Paek ; J. Kang ; Y. Seo
出版情報: Visual communications and image processing '94 : 25-29 September 1994, Chicago, Illinois.  pp.322-330,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2308
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
J. Kang ; H. Oh
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Astrodynamics Specialist Conference
シリーズ巻号: 2006
6.

国際会議録

国際会議録
J.H. Zhao ; D.F. Li ; G. Yuan ; X.Q. Wang ; R.H. Li ; J. Kang ; H.S. Di
出版情報: IUMRS International Conference in Asia.  pp.1094-1102,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 898
7.

国際会議録

国際会議録
W. Ma ; Y. Hwang ; E. Kang ; S. Park ; J. Kang ; C. Lim ; S. Moon
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
8.

国際会議録

国際会議録
Y. Jeon ; S. Jun ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
9.

国際会議録

国際会議録
J. Choi ; J. Kang ; Y. Shim ; K. Yun ; J. Hong ; Y. Lee ; K. Kim
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
10.

国際会議録

国際会議録
Y. Shim ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518