1.

国際会議録
国際会議録
1. Recent Developments in Spectroscopic Ellipsometry for Materials and Process Control
J.N. Hilfiker ; B. Johs ; J. Hale ; C.M. Herzinger ; T.E. Tiwald ; C.L. Bungay ; R.A. Synowicki ; G.K. Pribil ; J.A. Woollam
出版情報: 46th annual technical conference proceedings, March 3-8, 2003, San Francisco, California.  pp.365-370,  2003.  Albuquerque, NM.  Society of Vacuum Coaters
シリーズ名: Annual Technical Conference of Society of Vacuum Coaters
シリーズ巻号: 46
2.

国際会議録
国際会議録
2. Optical Monitoring of Thin Films Using Spectroscopic Ellipsometry
D.E. Morton ; B. Johs ; J. Hale
出版情報: 45th annual technical conference proceedings, April 13-18, 2002, Lake Buena Vista, Florida.  pp.299-305,  2002.  Albuquerque, NM.  Society of Vacuum Coaters
シリーズ名: Annual Technical Conference of Society of Vacuum Coaters
シリーズ巻号: 45
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. NASA Standard for Models and Simulations: Credibility Assessment Scale
M. Babula ; W. Bertch ; L. Green ; J. Hale ; G. Mosier ; M. Steele ; J. Woods
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2009.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2009