1.

国際会議録
国際会議録
1. Influence of Annealing Treatments on the Morphology and Electrical Properties of GeOI Substrates Obtained by Ge Condensation
J. Damlencourt ; Y. Campidelli ; T. Nguyen ; B. Vincent ; C. Le Royer ; Y. Morand ; S. Cristoloveanu ; L. Clavelier
出版情報: Advanced gate stack, source/drain and channel engineering for Si-based CMOS 3 : new materials, processes and equipment.  pp.65-72,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(1)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Germanium Photodetectors for Photonics on CMOS
J. Fedeli ; J. Damlencourt ; L. El Melhaoui ; Y. Le Cunff ; V. Mazzochi
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.771-777,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Epitaxial Regrowth of Ge on SGOI and GeOI Su,bstrates Obtained by Ge Condensation
J. Damlencourt ; Y. Campidelli ; M. Roure ; B. Vincent ; E. Martinez ; F. Fillot ; B. Arrazat ; T. Nguyen ; S. Cristoloveanu ; L. Clavelier ; Y. Morand
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.315-320,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)
4.

国際会議録
国際会議録
4. Germanium on silicon photodetectors for telecom wavelengths
L. Vivien ; M. Rouviere ; X. L. Roux ; J. Mangeney ; P. Crozat ; D. Marris-Morini ; D. Pascal ; E. Cassan ; S. Laval ; J. Damlencourt ; L. E. Melhaoui ; J. Fedeli
出版情報: Silicon photonics II : 22-25 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6477