1.

国際会議録
国際会議録
1. Digital SPV Diffusion Length Metrology (E8-Fe) for Ultra-High Purity Silicon Wafers
M. Wilson ; A. Savtchouk ; I. Tasarov ; J. D'Amico ; P. Edelman
出版情報: High Purity Silicon 10.  pp.285-301,  2008.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(6)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Manifestation of Cu Impurities on Silicon Surfaces, Implication for Monitoring Cu Contamination
M. Wilson ; A. Savtchouk ; J. D'Amico ; I. Tasarov ; L. Jastrzebski
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices and processes 7.  pp.347-361,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(3)
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Present Status and Recent Advancements in Corona-Kelvin Non-Contact Electrical Metrology of Dielectrics for IC-Manufacturing
M. Wilson ; D. Marinskiy ; A. Byelyayev ; J. D'Amico ; A. Findlay ; L. Jastrzebski ; J. Lagowski
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics 4.  pp.3-24,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(3)
4.

国際会議録
国際会議録
4. IXV Mock-Up Water Impact Test and Results Correlation
R. Ullio ; V. Becchio ; J. D'Amico ; G. Di Vita
出版情報: 12th European conference on structures, materials & environmental testing : proceedings.  2012.  Noordwijk.  ESA Communications, ESTEC
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 691