1.

国際会議録
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1. Mobility Characterization by Magnetoresistance in Ultra Thin SOI Ring-FETs
T. V. Chandrasekhar Rao ; S. Cristoloveanu ; J. Antoszewski ; T. Nguyen ; H. Hovel ; P. Genlil ; L. Faraone
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.279-286,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Mobility spectrum analysis of magnetic-field-dependent Hall data in HgCdTe epitaxial films
J. Antoszewski ; L. Faraone
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.146-157,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
3.

国際会議録
国際会議録
3. Fabry-Perot MEMS microspectrometers spanning the SWIR and MWIR
A. J. Keating ; J. Antoszewski ; K. K. M. B. D. Silva ; K. J. Winchester ; T. Nguyen ; J. M. Dell ; C. A. Musca ; L. Faraone ; O. Samardzic
出版情報: Infrared technology and applications XXXIII : 9-13 April 2007, Orlando, Florida, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6542
4.

国際会議録
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4. 1/f noise in HgCdTe infrared gated photodiodes
R. J. Westerhout ; C. A. Musca ; J. Antoszewski ; J. M. Dell ; L. Faraone
出版情報: Infrared technology and applications XXXIII : 9-13 April 2007, Orlando, Florida, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6542
5.

国際会議録
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5. Extending the tuning range of SWIR microspectrometers
J. S. Milne ; A. J. Keating ; J. Antoszewski ; J. M. Dell ; C. A. Musca ; L. Faraone
出版情報: Infrared technology and applications XXXIII : 9-13 April 2007, Orlando, Florida, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6542
6.

国際会議録
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6. Micro-electromechanical systems-based microspectrometers covering wavelengths from 1500nm to 5000nm
J. M. Dell ; A. J. Keating ; J. Milne ; J. Antoszewski ; C. A. Musca
出版情報: Next-generation spectroscopic technologies : 10-11 September 2007, Boston, Massachusetts, USA.  pp.67650L-1-67650L-9,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6765