1.

国際会議録
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1. Structure of In-Grown Stacking Faults in the 4H-SiC Epitaxial Layers
Izumi, S. ; Tsuchida, H. ; Tawara, T. ; Kamata, I. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.323-326,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
2.

国際会議録
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2. Selective Etching of GaAs/AlxGa1-xAs for Heterostructure Field Effect Transistors
Kitano, T. ; Izumi, S. ; Minami, H. ; Takano, H. ; Sato, K. ; Ishihara, O.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Wide Bandgap Semiconductors and Devices and the Twenty-Third State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XXIII).  pp.327-336,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-21
3.

国際会議録
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3. Analysis of High Leakage Currents in 4H-SiC Schottky Barrier Diodes Using Optical Beam-Induced Current Measurements
Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueda, A. ; Fujisawa, H. ; Ueno, K. ; Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1141-1144,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
4.

国際会議録
国際会議録
4. Electroluminescence Analysis of Al+ and B+ Implanted pn Diodes
Fujisawa, H. ; Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueno, K. ; Kamata, I. ; Tsuchida, T. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1297-1300,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
5.

国際会議録
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5. Homoepitaxial Growth and Characterization of Thick SiC Layers With a Reduced Micropipe Density
Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Izumi, S. ; Tawara, T. ; Jikimoto, T. ; Miyanagi, T. ; Nakamura, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide 2004--materials, processing and devices : symposium held April 14-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.35-46,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 815
6.

国際会議録
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6. Evaluation of Free Carrier Lifetime and Deep Levels of the Thick 4H-SiC Epilayers
Tawara, T. ; Tsuchida, H. ; Izumi, S. ; Kamata, I. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.565-568,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
7.

国際会議録
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7. Electroluminescence Analysis of Al+ and B+ Implanted pn Diodes
Fujisawa, H. ; Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueno, K. ; Kamata, I. ; Tsuchida, T. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1297-1300,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
8.

国際会議録
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8. Dependence of Micropipe Dissociation on Surface Orientation
Kamata, I. ; Tsuchida, H. ; Izumi, S. ; Tawara, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.379-382,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
9.

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9. Analysis of Structural Defects in the 4H-SiC Epilayers and their Influence on the Electrical Properties
Izumi, S. ; Kamata, I. ; Tawara, T. ; Fujisawa, H. ; Tsuchida, H.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.1085-1088,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
10.

国際会議録
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10. Analysis of High Leakage Currents in 4H-SiC Schottky Barrier Diodes Using Optical Beam-Induced Current Measurements
Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueda, A. ; Fujisawa, H. ; Ueno, K. ; Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1141-1144,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393