1.

国際会議録
国際会議録
1. Formation Behaviour of Grown-in Defects in Silicon During Czochralski Crystal Growth
Saishoji, T. ; Nakamura, K. ; Nakajima, H. ; Yokoyama, T. ; Ishikawa, F. ; Tomioka, J.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.28-40,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
2.

国際会議録
国際会議録
2. The Formation Mechanism of Coupled Voids in Czochralski Silicon
Ishikawa, F. ; Sadohara, S. ; Saishoji, T. ; Nakamura, K. ; Tomioka, J.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.86-96,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
3.

国際会議録
国際会議録
3. STUDY ON HYDROPHOBIC a-C:H:F OVERCOAT LAYER FOR a-Si:H PHOTORECEPTOR
Ishikawa, F. ; Tamahashi, K. ; Chigasaki, M. ; Onuma, S. ; Wakagi, M. ; Ohno, T. ; Shimamura, Y. ; Yamagishi, C.
出版情報: Amorphous silicon technology : symposium held April 5-8, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.429-434,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 118
4.

国際会議録
国際会議録
4. Highly efficient red phosphorescent organic light-emitting devices with facially encumbered and bulky Pt(II) porphyrins [5937-13]
Ikai, M. ; Ishikawa, F. ; Aratani, N. ; Osuka, A. ; Kawabata, S. ; Kajioka, T. ; Takeuchi, H. ; Fujikawa, H. ; Taga, Y.
出版情報: Organic Light-Emitting Materials and Devices IX.  pp.59370D-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5937
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Akeno 20km2 Air Shower Array (Akeno Branch)
Teshima, M. ; Ohoka, H. ; Matsubara, Y. ; Hara, T. ; Hatano, Y. ; Hayashida, N. ; He, C. X. ; Honda, M. ; Ishikawa, F. ; Kamata, K. ; Kifune, T. ; Mori, M. ; Nagano, M. ; Nishijima, K. ; Ohno, Y. ; Tanahashi, G.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CP-2376-Vol-3),  pp.1-4,  1985.  National Aeronautics and Space Administration
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. Properties of 10^18-10^19eV EAS at far core distance
Teshima, M. ; Nagano, M. ; Hara, T. ; Hatano, Y. ; Hayashida, N. ; He, C. X. ; Honda, M. ; Ishikawa, F. ; Kamata, K. ; Matsubara, Y. ; Matsubara, Y. ; Mori, M. ; Ohoka, H. ; Tanahashi, G.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NAS-CP-2376-Vol-7),  pp.1-4,  1985.  National Aeronautics and Space Administration