1.

国際会議録
国際会議録
1. Electron Paramagnetic Resonance and Optical Studies of Vanadium-Doped ZnTe
Kreissl,J. ; Irmscher,K. ; Peka,P. ; Lehr,M.U. ; Schulz,H.-J. ; Pohl,U.W.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.773-778,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
2.

国際会議録
国際会議録
2. The Nature of Trigonal Centers in Iron-Doped p-type Silicon
Gehlhoff,W. ; Irmscher,K. ; Rehse,U.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.2  pp.1233-1238,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
3.

国際会議録
国際会議録
3. Transition-metal acceptor pairs in silicon
Emanuelsson,P. ; Omling,P. ; Grimmeiss,H.G. ; Cehlhoff,W. ; Kreissl,J. ; Irmscher,K. ; Rehse,U.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.137-142,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
4.

国際会議録
国際会議録
4. An Electron Paramagnetic Resonance Study of Defects in Semiconducting Iron Disilicide
Irmscher,K. ; Gehlhoff,W. ; Tomm,Y. ; Lange,H.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.389-393,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
5.

国際会議録
国際会議録
5. Electronic Characterization of Defects in Iron-Doped p-Type Silicon
Gehlhoff,W. ; Irmscher,K. ; Rehse,U.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.373-378,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41