1.

国際会議録
国際会議録
1. ACCELERATED DEGRADATION MECHANISMS IN AMORPHOUS SILICON THIN FILM TRANSISTORS .
Chung, I.J. ; Oh, C.H. ; Kim, W.Y. ; Hwang, J.Y. ; Kim, Y.S. ; Park, J.S. ; Lee, S.K. ; Han, M.K.
出版情報: Amorphous insulating thin films : symposium held December 1-4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.401-406,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 284
2.

国際会議録
国際会議録
2. STRESSED IN SITU X-RAY DIFFRACTION STUDIES OF A Ni-Ti SHAPE MEMORY ALLOY
Hwang, J.Y. ; Yang, C.F.
出版情報: Smart materials fabrication and materials for micro-elctro-mechanical systems : symposium held April 28-30, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.183-190,  1992.  Philadelphia, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 276
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Robust Solenoid Current Control For EHB.
Jung, H.G. ; Hwang, J.Y. ; Yoon, P.J. ; Kim, J.H.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005