1.

国際会議録
国際会議録
1. Estimating the distribution of particle dimensions from electron microscope images
Hirvonen, P. ; Huttunen, H. J. ; Lappi, M.
出版情報: Image processing : algorithms and systems IV : 17-18 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.248-256,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5672
2.

国際会議録
国際会議録
2. Skewness correction in automatic license plate recognition
Huttunen, H. J.
出版情報: Image processing : algorithms and systems IV : 17-18 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.130-138,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5672
3.

国際会議録
国際会議録
3. Character recognition by best anisotropic local bases and neural networks
Uzunov, V. I. ; Gotchev, A. P. ; Huttunen, H. J. ; Egiazarian, K. O. ; Astola, J. T.
出版情報: Image processing : algorithms and systems IV : 17-18 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.151-160,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5672