1.

国際会議録
国際会議録
1. Infrared absorption study of buried oxides of single and triple implanted SIMOX structures
Lisovskii, I P ; Revesz, A G ; Hughes, H L
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.133-141,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-3
2.

国際会議録
国際会議録
2. Hot carrier degradation of fully depleted SIMOX MOSFETs
Sinha, S P ; Ii, F D ; loonnou, D E ; Jenkins, W C ; Hughes, H L ; Lin, M S
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.324-329,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-3