1.

国際会議録
国際会議録
1. Improving the performance of E-beam 2nd writing in mask alignment accuracy and pattern faultless for CPL technology
Lee, B. ; Hung, R. ; Lin, O. ; Wu, Y.-H. ; Kozuma, M. ; Shih, C.-L. ; Hsu, M. ; Hsu, S. D.
出版情報: Advanced microlithography technologies : 8-10 November, 2004, Beijing, China.  pp.114-121,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5645
2.

国際会議録
国際会議録
2. Nonlinear internal wave amplitude remote sensing from SAR imagery (Invited paper)
Yang, J. ; Huang, W. ; Zhou, C. ; Zhou, C. ; Hsu, M. ; Xiao, Q.
出版情報: Ocean remote sensing and applications : 24-26 October 2002, Hangzhou, China.  pp.450-454,  2003.  Bellingham, Wash.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4892
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Silicone impregnated reusable ceramic ablators for Mars Follow-on Missions
Tran, H. ; Johnson, C. ; Rasky, D. ; Hui, F. ; Hsu, M.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-13,  1996.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Thermophysics Conference
シリーズ巻号: 1996
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Phenolic impregnated carbon ablators (PICA) for discovery class missions
Tran, H. ; Johnson, C. ; Rasky, D. ; Hui, F. ; Chen, Y.K. ; Hsu, M.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-13,  1996.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Thermophysics Conference
シリーズ巻号: 1996
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Mixing Effects of Pylon-Aided Fuel Injection Located Upstream of a Flameholding Cavity in Supersonic Flow
Montes, D. ; King, P. ; Gruber, M. ; Carter, C. ; Hsu, M.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 41st
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. Accelerated Life Cycle Development for Electronic Throttle Control Software Using Model-Based/Auto-Code Technology.
Hsu, M. ; El-Jaroudi, M. ; Bender, E.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
7.

国際会議録
国際会議録
7. Manufacturing implementation of IML technology for 45nm node contact masks [6283-65]
Van Den Broeke, D. ; Hsu, M. ; Chen, F. J. ; Hsu, S. ; Hollerbach, U. ; Laidig, Y.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XIII.  pp.62831C-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6283
8.

国際会議録
国際会議録
8. RET masks for petterning 45nm node contact hole using ArF immersion lithography [6283-114]
Hsu, M. ; Chen, F. J. ; Van Den Broeke, D. ; En Tszng, S. ; Shieh, J. ; Hsu, S. ; Shi, X.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XIII.  pp.628317-628317,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6283
9.

国際会議録
国際会議録
9. Application of CPL mask for whole chip 5nm DRAM patterning [5853-69]
Lin, 0. ; Hung, R. ; Lee, B. ; Wu, Y.-H. ; Kozuma, M. ; Shih, C.-L. ; Lin, J. ; Hsu, M. ; Hsu, S. D.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XII.  pp.835-843,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5853
10.

国際会議録
国際会議録
10. Model-based scattering bars implementation for 65nm and 45nm nodes using IML technology [5853-50]
Hsu, M. ; Van Den Broeke, D. ; Laidig, T. ; Wampler, K. E. ; Hollerbach, U. ; Socha, R. ; Chen, J. F. ; Hsu, S. ; Shi, X.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XII.  pp.659-671,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5853