1.

国際会議録
国際会議録
1. Radiation Source Dependence of Degradation in MOSFETS on SIMOX Substrate
Hakata, T. ; Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Kawamura, K. ; Miyahara, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.387-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
2.

国際会議録
国際会議録
2. Degradation and Recovery of Si Diodes by 20-MeV Protons and 220-MeV Carbon Particles
Hakata, T. ; Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Sunaga, H. ; Kobayashi, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.435-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
3.

国際会議録
国際会議録
3. Radiation Damage in Si Avalanche Photodiodes by 1-MeV Fast Neutrons and 220-MeV Carbon Particles
Ohyama, H. ; Hakata, T. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Hayama, K. ; Tokuyama, J. ; Shigaki, K. ; Kobayashi, K. ; Sunaga, H. ; Miyahara, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.429-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487