1.

国際会議録

国際会議録
Schindler, W. ; Hofmann, D. ; Kirschner, J.
出版情報: Scanning probe techniques for materials characterization at nanometer scale : proceedings of the International Symposium.  pp.12-15,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-35
2.

国際会議録

国際会議録
Molter, M.I. ; Hegger, J. ; Habel, W.R. ; Hofmann, D. ; Gutmann, T. ; Basedau, F.
出版情報: Smart structures and materials 2002 : smart sensor technology and measurement systems : 18-19 March 2002, San Diego, USA.  pp.253-258,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4694
3.

国際会議録

国際会議録
Crail, S. ; Reichel, D. ; Schreiner, U. ; Lindner, E. ; Habel, W.R. ; Hofmann, D. ; Basedau, F. ; Brandes, K. ; Barner, A. ; Ecke, W. ; Schroeder, K.
出版情報: Smart structures and materials 2002 : smart sensor technology and measurement systems : 18-19 March 2002, San Diego, USA.  pp.259-264,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4694
4.

国際会議録

国際会議録
Habel, W.R. ; Hofmann, D. ; Kohlhoff, H. ; Knapp, J. ; Brandes, K. ; Haenichen, H. ; Inaudi, D.
出版情報: Smart structures and materials 2002 : smart sensor technology and measurement systems : 18-19 March 2002, San Diego, USA.  pp.236-241,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4694
5.

国際会議録

国際会議録
Hofmann, D. ; Eckstein, R. ; Kadinski, L. ; Kolbl, M. ; Muller, M. ; Muller, St. G. ; Schmitt, E. ; Weber, A. ; Winnacker, A.
出版情報: Power semiconductor materials and devices : symposium held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.301-,  1998.  Warrendale, Penn..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 483
6.

国際会議録

国際会議録
Eckstein, R. ; Hofmann, D. ; Makarov, Y. ; Muller, St. G. ; Pensl, G. ; Schmitt, E. ; Winnacker, A.
出版情報: III-Nitride, SiC, and Diamond Materials for Electronic Devices : symposium held April, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.215-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 423
7.

国際会議録

国際会議録
Kleint, C. A. ; Heinrich, A. ; Griessmann, H. ; Hofmann, D. ; Vinzelberg, H. ; Schumann, J. ; Schlaefer, D. ; Behr, G. ; Ivanenko, L.
出版情報: Thermoelectric materials, 1998--the next generation materials for small-scale refrigeration and power generation applications : symposium held November 30-December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.165-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 545
8.

国際会議録

国際会議録
Hofmann, D. ; Basedau, F. ; Habel, W. R. ; Gloetzl, R.
出版情報: Second European Workshop on Optical Fibre Sensors : EWOFS '04 : 9-11 June 2004, Santander, Spain.  pp.128-131,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5502
9.

国際会議録

国際会議録
Gloetzl, R. ; Hofmann, D. ; Basedau, F. ; Habel, W.
出版情報: Smart structures and materials 2005 : Smart sensor technology and measurement systems : 7-9 March 2005, San Diego, California, USA.  pp.248-253,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5758
10.

国際会議録

国際会議録
Lebid, S.Y. ; Hofmann, D. ; Basedau, F. ; Daum, W.
出版情報: Photonics, devices, and systems II :Proceedings from PHOTONICS PRAGUE 2002, 26-29 May 2002, Prague, Czech Republic, Miroslav Hrabovský, Dagmar Senderáková, Pavel Tománek, chairs/editors ; Organized by CSSF--Czech and Slovak Society for Photonics, Tech-Market.  pp.366-371,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5036