1.

国際会議録

国際会議録
Spaeth, J. -M. ; Gorger, A. ; Hofmann, D. M. ; Meyer, B. K.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.363-374,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
2.

国際会議録

国際会議録
Spaeth, J> M. ; Hofmann, D. M. ; Meyer, B. K.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.185-194,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
3.

国際会議録

国際会議録
Wimbauer, T. ; Hofmann, D. M. ; Meyer, B. K. ; Brandt, M. S. ; Brandl, T. ; Bayerl, M. W. ; Reinacher, N. M. ; Stutzmann, M. ; Mochizuki, Y. ; Mizuta, M.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.511-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442
4.

国際会議録

国際会議録
Emanuelsson, P. ; Drechsler, M. ; Hofmann, D. M. ; Meyer, B. K. ; Moser, M. ; Scholz, F.
出版情報: Growth, processing, and characterization of semiconductor heterostructures : Symposium held November 29-December 2, 1993, Massachusetts, U.S.A..  pp.543-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 326
5.

国際会議録

国際会議録
Meyer, B. K. ; Hofmann, D. M. ; Christmann, P. ; Stadler, W. ; Nikolov, A. ; Scharmann, A. ; Hofstaetter, A.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium held November 29-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.453-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 358
6.

国際会議録

国際会議録
Meyer, B. K. ; Hofmann, D. M. ; Stadler, W. ; Emanuelsson, P. ; Omling, P. ; Weigel, E. ; Muller-Vogt, G. ; Wienecke, F. ; Schenk, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.433-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302
7.

国際会議録

国際会議録
Hofmann, D. M. ; Kovalev, D. ; Steude, G. ; Volm, D. ; Meyer, B. K. ; Xavier, C. ; Monteiro, T. ; Pereira, E. ; Mokov, E. N. ; Amano, H. ; Akasaki, I.
出版情報: Gallium nitride and related materials : the First International Symposium on Gallium Nitride and Related Materials held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.619-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 395
8.

国際会議録

国際会議録
Steude, G. ; Hofmann, D. M. ; Drechsler, M. ; Meyer, B. K. ; Hardtdegen, H. ; Hollfelder, M.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.399-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442
9.

国際会議録

国際会議録
Meyer, B. K. ; Hofmann, D. M. ; Volm, D. ; Chen, W. M. ; Son, N. T. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.559-562,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(1)
10.

国際会議録

国際会議録
Meyer, B. K. ; Hofmann, D. M. ; Stadler, W. ; Salk, M. ; Eiche, C. ; Benz, K. W.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.189-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302