1.

国際会議録

国際会議録
Uzzaman, S. ; Khobaib, M. ; Hoffmann, J.P. ; Meyendorf, N.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II.  pp.230-238,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
2.

国際会議録

国際会議録
Bajjuri, S. ; Hoffmann, J.P. ; Siddoju, A.B. ; Meyendorf, N.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II.  pp.247-255,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392
3.

国際会議録

国際会議録
Meyendorf, N. ; Sathish, S. ; Druffner, C.J. ; Blackshire, J.L. ; Hoffmann, J.P. ; Zhan, Q. ; Andrews, R.J.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems II.  pp.256-265,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5392