1.

国際会議録

国際会議録
Hoff, A. ; Oborina, E. ; Aravamudhan, S. ; Isti, A.
出版情報: Cleaning technology in semiconductor device manufacturing VIII : proceedings of the international symposium.  pp.379-385,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-26
2.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Edelman, P. ; Esry, T.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.437-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
3.

国際会議録

国際会議録
Edelman, P. ; Lagowski, J. ; Savchouk, A. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Persson, E.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.443-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
4.

国際会議録

国際会議録
Faifer, V. ; Edelman, P. ; Kontkiewicz, A. ; Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Dyukov, V. ; Pravdivtsev, A. ; Kornienko, I.
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.73-82,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
5.

国際会議録

国際会議録
Blasch, E.P. ; Hoff, A.
出版情報: Intelligent Computing: Theory and Applications II.  pp.125-133,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5421