1.

国際会議録
国際会議録
1. Modeling of Electromigration-Induced Failure of Metallic Thin Films Interconnects
Maroudas, D. ; Gungor, R. ; Ho, H. ; Gray, L.
出版情報: Proceedings of the Symposia on Electrochemical Processing in ULSI Fabrication I and Interconnect and Contact Metallization: materials, processes, and reliability.  pp.232-243,  1998.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-6
2.

国際会議録
国際会議録
2. Dislocation Formation in Trench-Based Dynamic Random Access Memory (DRAM) Chips
Ho, H. ; Hammerl, E. ; Stengl, R. ; Benedict, J.
出版情報: Surface/interface and stress effects in electronic material nanostructures : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.459-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 405
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. TRW's Broadband Satellite Communication Payloads at C and Ku Frequency Bands.
Hamidi, M. ; Wiswell, E. ; Cherrette, A. ; Saunders, O. ; Ho, H.
出版情報: AIAA paper.  2002.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号: 2002
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Composite Load Spectra for Select Space Propulsion Structural Components Second Annual Report
Newell, J.F. ; Kurth, R.E. ; Ho, H.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CR-189048),  pp.1-143,  1991.  National Aeronautics and Space Adminstration
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Composite Load Spectra for Select Space Propulsion Structural Components (Third Annual Report)
Newell, J.F. ; Kurth, R.E. ; Ho, H.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CR-189049),  pp.1-117,  1991.  National Aeronautics and Space Adminstration
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. NUMERICAL ANALYSIS OF THE IOSIPESCU SPECIMEN FOR COMPOSITE MATERIALS
Ho, H. ; Tsai, M.Y. ; Morton, J. ; Farley, G.L.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CR-190658),  pp.1-40,  1992.  National Aeronautics and Space Adminstration
7.

国際会議録
国際会議録
7. Low-level birefringence detection system for stress measurement in semiconductors
Peng, H.J. ; Wong, S. ; Liu, X.H. ; Lai, Y.W. ; Ho, H. ; Zhao, S.
出版情報: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection III.  pp.659-668,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5144