1.
国際会議録 |
Elshocht, S.Van ; Caymax, M. ; Gendt, S.De ; Conard, T. ; Petry, J. ; Claes, M. ; Witters, T. ; Zhao, C. ; Brijs, B. ; Richard, O. ; Bender, H. ; Vandervorst, W. ; Carter, R. ; Kluth, J. ; Date, L. ; Pique, D. ; Heyns, M.M.
|
|||||||
2.
国際会議録 |
Delabie, Annelies ; Caymax, M. ; Maes, J.W. ; Bajolet, P. ; Brijs, B. ; Cartier, E. ; Conard, T. ; Gendt, S.De ; Richard, O. ; Vandervorst, W. ; Zhao, C. ; Green, M. ; Tsai, W. ; Heyns, M.M.
|
|||||||
3.
国際会議録 |
Rotondaro, A.L.P. ; Honda, K. ; Maw, T. ; Perry, D. ; Lux, M. ; Heyns, M.M. ; Claeys, C. ; Darakchiev, I.
|
|||||||
4.
国際会議録 |
Mertens, P.W. ; Verhaverbeke, S. ; Heyns, M.M. ; Hellemans, L. ; Snauwaert, J. ; Dillenbeck, K.
|
|||||||
5.
国際会議録 |
5. THE RELATION BETWEEN SODIUM AND ALUMINUM CONTAMINATION AND DIELECTRIC BREAKDOWN IN MOS STRUCTURES
Verneire, B. ; Rotondaro, A.L.P. ; Mertens, P.W. ; Verhaverbeke, S. ; Heyns, M.M.
|
|||||||
6.
国際会議録 |
Meuris, M. ; Verhaverbeke, S. ; Mertens, P.W. ; Schmidt, H.F. ; Rotondaro, A.L.P. ; Heyns, M.M. ; Philipossian, A.
|
|||||||
7.
国際会議録 |
Wolke, K. ; Riedel, T. ; Haug, R. ; De Gendt, S. ; Heyns, M.M. ; Meuris, M.
|
|||||||
8.
国際会議録 |
De Smedt, F. ; De Gendt, S. ; Cornelissen, I. ; Heyns, M.M. ; Vinckier, C.
|
|||||||
9.
国際会議録 |
De Gendt, S. ; Lux, M. ; Claes, M. ; Van Hoeymissen, J. ; Conrad, T. ; Worth, W. ; Lagrange, S. ; Bergman, E. ; Jassal, A.S. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M.
|
|||||||
10.
国際会議録 |
Kesters, E. ; Ghekiere, J. ; Van Doorne, P. ; Vereecke, G. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M.
|