1.

国際会議録
国際会議録
1. Issues in Low k Dielectric Integration
Ryan, J.G. ; Hay, J. ; Shaw, T. ; Purushothaman, S. ; Hedrick, J. ; Davis, C. ; McGahay, V. ; Goldblatt, R.
出版情報: ULSI process integration : proceedings of the first international symposium.  pp.323-328,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-18
2.

国際会議録
国際会議録
2. Integration Issues for New Dielectrics in CMOS Technology
Gates, S. ; Chen, S.T. ; Chen, X. ; Cohen, S. ; Edelstein, D. ; Fitzsimmons, J. ; Hedrick, J. ; Restaino, D. ; Ryan, J. ; Simonyi, E. ; Purushothaman, S.
出版情報: Low and high dielectric constant materials : materials science, processing, and reliability issues : proceedings of the fifth international symposium.  pp.31-39,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-5
3.

国際会議録
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3. HIGH TEMPERATURE POLYMER NANOFOAMS
Hedrick, J. ; Labadie, J. ; Russell, T. ; Wakharkar, V. ; Hofer, D.
出版情報: Submicron multiphase materials : symposium held April 28-30, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.37-46,  1992.  Pittsburgh, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 274
4.

国際会議録
国際会議録
4. Preparation and Properties of Poly(phenylquinoxaline) Based Block Copolymers
Labadie, J. ; Hedrick, J. ; Hofer, D.
出版情報: ANTEC 88, Atlanta, April 18-21, 1988, Conference proceedings : plastics are shaping tomorrow today : Society of Plastics Engineers 46th annual technical conference & exhibits.  pp.1042-1043,  1988.  Brookfield, CT.  Society of Plastics Engineers, Inc. (SPE)
シリーズ名: Annual Technical Conference - ANTEC : Society of Plastics Engineers Annual Technical Papers
シリーズ巻号: 34
5.

国際会議録
国際会議録
5. Porous Low-k Dielectrics: Material Properties
Tyberg, C. ; Huang, E. ; Hedrick, J. ; Simonyi, E. ; Gates, S. ; Cohen, S. ; Malone, K. ; Wickland, H. ; Sankarapandian, M. ; Toney, M. ; Kim, H.-C. ; Miller, R. ; Volksen, W. ; Rice, P. ; Lurio, L.
出版情報: Polymers for microelectronics and nanoelectronics.  pp.161-172,  2004.  Washington, D.C..  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 874