1.

国際会議録
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1. Degradation and recovery of alpha ray irradiated MOSFETs on SIMOX
Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Kawamura, K. ; Hakata, T. ; Sunaga, H. ; Ogita, Y.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.289-294,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
2.

国際会議録
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2. Radiation Source Dependence of Degradation in MOSFETS on SIMOX Substrate
Hakata, T. ; Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Kawamura, K. ; Miyahara, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.387-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
3.

国際会議録
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3. Degradation and Recovery of Si Diodes by 20-MeV Protons and 220-MeV Carbon Particles
Hakata, T. ; Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Sunaga, H. ; Kobayashi, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.435-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
4.

国際会議録
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4. Radiation Damage in Si Avalanche Photodiodes by 1-MeV Fast Neutrons and 220-MeV Carbon Particles
Ohyama, H. ; Hakata, T. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Hayama, K. ; Tokuyama, J. ; Shigaki, K. ; Kobayashi, K. ; Sunaga, H. ; Miyahara, K. ; Hososhima, M.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.429-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
5.

国際会議録
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5. Degradation and Recovery of Si1-xGex Devices by Irradiation
Ohyama, H. ; Vanhellemont, J. ; Takami, Y. ; Hayama, K. ; Kudo, T. ; Hakata, T. ; Kobayashi, K. ; Sunaga, H. ; Hironaka, I. ; Poortmans, J. ; Caymax, M.
出版情報: Strained layer epitaxy - materials processing and device applications : symposium held April 17-19, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.365-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 379
6.

国際会議録
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6. Impact of the Ge Content on the Radiation Hardness of Heterojunction Diodes in SiGe Strained Layers
Ohyama, H. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Takami, Y. ; Hayama, K. ; Hakata, T. ; Tokuyama, J. ; Kobayashi, K. ; Sunaga, H. ; Poortmans, J. ; Caymax, M.
出版情報: Epitaxy and applications of si-based heterostructures : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.99-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 533