1.

国際会議録
国際会議録
1. Electrical Measurement of the Vanadium Acceptor Level in 4H- and 6H-SiC
William C. Mitchel ; William D. Mitchell ; H. E. Smith ; M. E. Zvanut ; Wonwoo Lee
出版情報: Silicon carbide 2006--materials, processing and devices : symposium held April 18-20, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.225-230,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 911
2.

国際会議録
国際会議録
2. Deep Levels and Compensation in High Purity Semi-Insulating 4H-SiC
W. C. Mitchel ; W. D. Mitchell ; H. E. Smith ; W. E. Carlos ; E. R. Glaser
出版情報: Silicon carbide 2006--materials, processing and devices : symposium held April 18-20, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.213-218,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 911