1.

国際会議録

国際会議録
Vial-Edwards, C. ; Guelorget, B. ; Francois, M. ; Lira, I. ; Munzenmayer, M.
出版情報: Eighth International Symposium on Laser Metrology : macro-, micro-, and nano-technologies applied in science, engineering, and industry : 14-18 February, 2005, Merida, Yucatan, Mexico.  pp.699-708,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5776
2.

国際会議録

国際会議録
Retraint, D. ; Garnier, C. ; Guelorget, B. ; Lu, J.
出版情報: ECRS 6 : proceedings of the 6th European Conference on Residual Stresses, Coimbra, Portugal, 10-12 July, 2002.  pp.463-468,  2002.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 404-407
3.

国際会議録

国際会議録
Guelorget, B. ; Francois, M. ; Montay, G. ; Daniel, L. ; Lu, J.
出版情報: Speckle06: Speckles, From Grains to Flowers.  pp.63412K-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6341