1.

国際会議録
国際会議録
1. Isolated substitutional silver and silver-induced defects in silicon:an electron paramagnetic resonance investigation
Hai,P.N. ; Gregorkiewicz,T. ; Ammerlaan,C.A.J. ; Don,D.T.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.491-496,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録
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2. High-field EPR speetroscopy of thermal donors in silicon
Dirksen,R. ; Rasmussen,F.Berg ; Gregorkiewicz,T. ; Ammerlaan,C.A.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.373-378,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録
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3. Passivation of Electronic Centres in Silicon by Hydrogen
Ammerlaan,C.A.J. ; Zevenbergen,I.S. ; Gregorkiewicz,T.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 1  pp.531-538,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
4.

国際会議録
国際会議録
4. Silicon thermal donors:photoluminescence and magnetic resonance study of boron- and aluminum-doped silicon
Liesert,B.J.Heijmink ; Gregorkiewicz,T. ; Ammerlaan,C.A.J.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.407-412,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
5.

国際会議録
国際会議録
5. High-Resolution EPR Spectroscopy of the Si-NL 10 Thermal Donor
Gregorkiewicz,T. ; Bekamn,H.H.P.Th. ; Ammerlaan,C.A.J. ; Knap,W. ; Brunel,L.C. ; Martinez,G.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.521-522,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
6.

国際会議録
国際会議録
6. EPR Study of Platinum-Hydrogen Complexes in Silicon
Hohne,M. ; Juda,U. ; Martynov,Yu.V. ; Gregorkiewicz,T. ; Ammerlaan,C.A.J. ; Vlasenko,L.S.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.3  pp.1659-1663,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
7.

国際会議録
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7. Photoluminescence study of erbium in silicon with a free-electron laser
Tsimperidis,I. ; Gregorkiewicz,T. ; Bekman,H.P.Th. ; Langerak,C.J.G.M. ; Ammerlaan,C.A.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part3  pp.1497-1502,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
8.

国際会議録
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8. The NL1O Thermal Donor in Silicon
Bekman,H.H.P.Th. ; Gregorkiewicz,T. ; Ammerlaan,C.A.J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.601-606,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
9.

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9. Heat-Treatment Centres and Thermal Donors in Silicon
Gregorkiewicz,T. ; Bekman,H.H.P.Th. ; Ammerlaan,C.A.J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.595-600,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
10.

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10. Shailow thermal donors in annealed CZ silicon and links to the NL1O EPR spectrum:the reievance of H,Al and N imporities
Newman,R.C. ; Ashwin,M.J. ; Pritcbard,R.E ; Tucker,J.H. ; Lightowlers,E.C. ; Gregorkiewicz,T. ; Zevenbergen,I.S. ; Ammeriaan,C.A.J. ; Falster,R. ; Binns,M.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.379-384,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263