1.

国際会議録
国際会議録
1. Two-color infrared focal plane array based on InAs/InGaAs/GaAs quantum dots in a well detectors design [5897-26]
Annamalai, S. ; Dowd, P. ; Forman, D. ; Varangis, P. ; Tumolillo, T. ; Gray, A. ; Sun, K. ; Liu, M. ; Campbell, J. ; Carothers, D. ; Krishna. S.
出版情報: Photonics for space environments X : 1-2 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58970P-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5897
2.

国際会議録
国際会議録
2. Twinning in Epilayers of CdTe on <211> Si: Influence of ZnTe Buffer Layer and Substrate Misorientation
Gray, A. ; Dhar, N. K. ; Clark, W. ; Charlton, P. ; Dinan, J. H. ; Segnan, R. ; Mayo, W. E.
出版情報: Evolution of epitaxial structure and morphology : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.479-,  1996.  Pittsburgh, Pennsylvania.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 399
3.

国際会議録
国際会議録
3. An Integrated Architecture for Co-operating Rovers,
Estlin, T. ; Yen, J. ; Petras, R. ; Mutz, D. ; Castano, R. ; Rabideau, G. ; Steele, R. ; Jain, A. ; Chien, S. ; Mjolsness, E. ; Gray, A. ; Mann, T. ; Hayati, S. ; Das, H.
出版情報: iSAIRAS '99 : Fifth International Symposium on Artificial Intelligence, Robotics and Automation in Space, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands, 1-3 June 1999.  pp.255-264,  1999.  Noordwijk, Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 440
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. The Influence of Silicon Particle Morphology on the Melting Mechanism of Aluminium Brazing Sheet.
Hawksworth, D. ; Gray, A.
出版情報: 2005 Vehicle Thermal Management Systems Conference and Exhibition : SAE technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Precision ADCS of a Spinning Spacecraft for the Mars Aeronomy Explorer Mission
Mungas, G. ; Shotwell, R. ; Gray, A.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Guidance Navigation and Control Conference
シリーズ巻号: 2005
6.

国際会議録
国際会議録
6. Novel technique for critical dimension measurements of phase-shift masks using broadband transmittance spectra in conjunction with RCWA [6349-162]
Gray, A. ; Lam, J. C. ; Chen, S.
出版情報: Photomask Technology 2006.  pp.634949-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6349
7.

国際会議録
国際会議録
7. Optical measurements of critical dimensions at several stages of the mask fabrication process [6152-131]
Lam, J. C. ; Gray, A.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.61523C-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152
8.

国際会議録
国際会議録
8. Fast nondestructive optical measurements of critical dimension uniformity and linearity on AEI and ASI phase-shift masks [6349-61]
Gray, A. ; Lam, J. C.
出版情報: Photomask Technology 2006.  pp.63491O-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6349