1.

国際会議録
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1. *CLEANING OF METAL CONTAMINATION
Mertens, P.W. ; Hurd, T.Q. ; Graf, D. ; Meuris, M. ; Schmidt, H.F. ; Heyns, M.M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Contamination Control and Defect Reduction in Semiconductor Manufacturing III.  pp.241-252,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-9
2.

国際会議録
国際会議録
2. EVALUATION OF Si SURFACE CONDITIONS BY THE USE OF A SURFACE PHOTOVOLTAGE TECHNIQUE
Trauwaert, M.-A. ; Kenis, K. ; Caymax, M. ; Mertens, P.W. ; Heyns, M.M. ; Vanhellemont, J. ; Graf, D. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.455-462,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-35
3.

国際会議録
国際会議録
3. Impact of Chemical and Epitaxial Treatment on Surface Defects on Silicon Wafers
Schmolke, R. ; Graf, D. ; Suhren, M. ; Kirchner, R. ; Piontek, H. ; Wagner, P.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.137-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442
4.

国際会議録
国際会議録
4. NEW WET CLEANING STRATEGIES FOR OBTAINING HIGHLY RELIABLE THIN OXIDES
Heyns, M. M. ; Verhaverbeke, S. ; Meuris, M. ; Mertens, P. W. ; Schmidt, H. ; Kubota, M. ; Philipossian, A. ; Dillenbeck, K. ; Graf, D. ; Schnegg, A. ; Blank, R. de
出版情報: Surface chemical cleaning and passivation for semiconductor processing.  pp.35-,  1993.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 315
5.

国際会議録
国際会議録
5. IR and MW Absorption Techniques for Bulk and Surface Recombination Control in High-Quality
Kaniava, A. ; Menczigar, U. ; Vanhellemont, J. ; Poortmans, J. ; Rotondaro, A. L. P. ; Gaubas, E. ; Vaitkus, J. ; Koster, L. ; Graf, D.
出版情報: Ultraclean semiconductor processing technology and surface chemical cleaning and passivation : Symposum held April 17-19, 1995, San Francisco, California, USA.  pp.389-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 386
6.

国際会議録
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6. Surfaces and Crystal Defects of Silicon
Wagner, P. ; Brohl, M. ; Graf, D. ; Lambert, U.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.17-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
7.

国際会議録
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7. Morphology and Chemical Composition of Polished Silicon Wafer Surfaces
Graf, D. ; Schnegg, A. ; Schmolke, R. ; Suhren, M. ; Gerber, H.A. ; Wagner, P.
出版情報: Proceedings of the First International Symposium on Chemical Mechanical Planarization.  pp.186-196,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-22