1.

国際会議録
国際会議録
1. Silicon Piezoresistive Cantilever Beam with Porous Silicon Element
Domanski, K. ; Tomaszewski, D. ; Grabiec, P. ; Gniazdowski, Z. ; Kudla, A. ; Beck, R.B. ; Jakubowski, A. ; Gotszalk, T. ; Rangelow, I.W.
出版情報: Proceedings of the Eleventh International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices : (December 11-15, 2001).  VOL-1  pp.523-526,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4746
2.

国際会議録
国際会議録
2. Thermal imaging of microwave power GaAs-FET with scanning thermal nanoprobe
Joodaki, M. ; Janus, P. ; Gotszalk, T. ; Kompa, G. ; Edinger, K. ; Rangelow, I.W.
出版情報: Nanoscale Optics and Applications.  pp.202-207,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4809