1.

国際会議録
国際会議録
1. The hydrogen-saturated self-interstitial iu silicon and germanium
Budde,M. ; Nielsen,B.Bech ; Leary,P. ; Goss,J. ; Jones,R. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S. ; Breuer,S.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.35-40,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録
国際会議録
2. Theory of gold-hydrogen complexes in silicon
Resende,A. ; Goss,J. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S. ; Jones,R.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.295-300,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録
国際会議録
3. The NNO Defect in Silicon
Rasmussen,F.Berg ; Oberg,S. ; Jones,R. ; Ewels,C. ; Goss,J. ; Miro,J. ; Deak,P.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.791-796,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
4.

国際会議録
国際会議録
4. Ni Complexes in Diamond
Goss,J. ; Resende,A. ; Jones,R. ; Oberg,S. ; Briddon,P.R.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.67-72,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
5.

国際会議録
国際会議録
5. Theory of the NiH2 Complex in Si and the CuH2 Complex in GaAs
Jones,R. ; Goss,J. ; Oberg,S. ; Briddon,P.R. ; Resende,A.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.921-926,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
6.

国際会議録
国際会議録
6. H Interacting with Intrinsic Defects in Si
Nielsen,B.Bech ; Hoffmann,L. ; Budde,M. ; Jones,R. ; Goss,J. ; Oberg,S.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.933-938,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201