1.

国際会議録

国際会議録
Khoury, J. ; Woods, C.L. ; Haji-Saeed, B. ; Sengupta, S.K. ; Megherbi, D.B. ; Goodhue, W.D. ; Kierstead, J.
出版情報: Optical pattern recognition XV : 15-16 April 2004, Orlando, Florida, USA.  pp.288-292,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5437
2.

国際会議録

国際会議録
Menon, Vinod M. ; Goodhue, W.D. ; Karakashian, A.S.
出版情報: Infrared technology and applications XXIV : 19-24 July 1998, San Diego, California.  Part 2  pp.970-974,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3436
3.

国際会議録

国際会議録
Vangala, S.R. ; Krejca, B. ; Kristmaswami, K. ; Dauplaise, H. ; Qian, X. ; Zhu, B. ; Ospina, M. ; Sung, C. ; Vaccaro, K. ; Bliss, D. ; Goodhue, W.D.
出版情報: Radiation effects and ion-beam processing of materials : symposium held December 1-5, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.569-574,  2004.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 792
4.

国際会議録

国際会議録
Krejca, B. ; Vangala, S.R ; Krishnaswami, K. ; Kolluru, R. ; Ospina, M.C. ; Sung, C. ; Goodhue, W.D.
出版情報: Radiation effects and ion-beam processing of materials : symposium held December 1-5, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.309-314,  2004.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 792
5.

国際会議録

国際会議録
Haji-Saeed, B. ; Sengupta, S.K. ; Testorf, M.E. ; Megherbi, D.B. ; Goodhue, W.D. ; Khoury, J. ; Woods, C.L. ; Kierstead, J.
出版情報: Optical pattern recognition XV : 15-16 April 2004, Orlando, Florida, USA.  pp.146-152,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5437
6.

国際会議録

国際会議録
Haji-Saeed, B. ; Kolluru, R. ; Pyburn, D. ; Leon, R. ; Sengupta, S.K. ; Testorf, M.E. ; Goodhue, W.D. ; Khoury, J. ; Drehman, A.J. ; Woods, C.L. ; Kierstead, J.
出版情報: Optical pattern recognition XV : 15-16 April 2004, Orlando, Florida, USA.  pp.115-122,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5437
7.

国際会議録

国際会議録
Haji-Saeed, B. ; Pyburn, D. ; Leon, R. ; Sengupta, S.K. ; Goodhue, W.D. ; Testorf, M.E. ; Kierstead, J. ; Khoury, J. ; Woods, C.L.
出版情報: Optical Pattern Recognition XIV.  pp.186-193,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5106