1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of Plated Cu Thin Film Microstructures
Gignac, L. M. ; Rodbell, K. P. ; Cabral, C., Jr. ; Andricacos, P. C. ; Rice, P. M. ; Beyers, R. B. ; Locke, P. S. ; Klepeis, S. J.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.373-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
2.

国際会議録
国際会議録
2. Film Crystallographic Texture and Substrate Surface Roughness in Layered Aluminum Metallization
Rodbell, K. P. ; Svilan, V. ; Gignac, L. M. ; DeHaven, P. W. ; Murphy, R. J. ; Licata, T. J.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.261-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
3.

国際会議録
国際会議録
3. In Situ TEM Analysis of TiSi2 C49-C54 Transformations During Annealing
Gignac, L. M. ; Svilan, V. ; Clevenger, L. A. ; Cabral, C., Jr. ; Lavoie, C.
出版情報: Thin films - structure and morphology : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.255-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 441
4.

国際会議録
国際会議録
4. Characterization of Plated Cu Thin Film Microstructures
Beyers, R. B. ; Cabral, C. ; Gignac, L. M. ; Klepeis, S. J. ; Locke, P. S. ; ricacos, P. C. ; Rice, P. M. ; Rodbell, K. P.
出版情報: Polycrystalline metal and magnetic thin films : symposium held April 5-8, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.209-214,  1999.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 562