1.
テクニカルペーパー |
Ntziachristos, L. ; Giechaskiel, B. ; Pistikopoulos, P. ; Samaras, Z. ; Mathis, U.
|
|||||||
2.
テクニカルペーパー |
Giechaskiel, B. ; Carriero, M. ; Martini, G. ; Krasenbrink, A. ; Scheder, D.
|
|||||||
3.
テクニカルペーパー |
Giechaskiel, B. ; Bergmann, A.
|
|||||||
4.
テクニカルペーパー |
Giechaskiel, B. ; Arndt, M.
|
|||||||
5.
テクニカルペーパー |
Swanson, J. ; Kittelson, D. ; Giechaskiel, B. ; Bergmann, A. ; Twigg, M.
|
|||||||
6.
テクニカルペーパー |
Ntziachristos, L. ; Amanatidis, S. ; Samaras, Z. ; Giechaskiel, B. ; Bergmann, A.
|
|||||||
7.
テクニカルペーパー |
Giechaskiel, B. ; Munoz-bueno, R. ; Rubino, L. ; Manfredi, U. ; Dilara, P.
|
|||||||
8.
テクニカルペーパー |
Ntziachristos, L. ; Giechaskiel, B. ; Pistikopoulos, P. ; Fysikas, E. ; Samaras, Z.
|
|||||||
9.
テクニカルペーパー |
Giechaskiel, B. ; Martini, G.
|
|||||||
10.
テクニカルペーパー |
10. Theoretical Investigation of Volatile Removal Efficiency of Particle Number Measurement Systems.
Giechaskiel, B. ; Drossinos, Y.
|