1.

国際会議録
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1. Characterization and modeling of Defects in High-k Layers Through Fast Electrical Transient Measurements
Mitard, J. ; Leroux, C. ; Reimbold, G. ; Garros, X. ; Martin, F. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices.  pp.73-85,  2006.  Dordrecht.  Springer
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 220
2.

国際会議録
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2. Modeling and Electrical Characterization of MOS Structures with Ultra-Thin Gate Oxide
Clerc, R. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Silicon nitride and silicon dioxide thin insulating films VII : proceedings of the international symposium.  pp.551-572,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-2
3.

国際会議録
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3. Impact of quantum-mechanical effects on the double-gate MOSFET characteristics
Dauge, F. ; Jomaah, J. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.383-388,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
4.

国際会議録
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4. Comparison Between the Cryogenic Behaviour of Deep Submicron Bulk Si and SOI CMOS Devices
Balestra, F. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Proceedings of the fourth Symposium on Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity.  pp.171-186,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-2
5.

国際会議録
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5. Evaluation and Comparison of Various Silicon-On-Sapphire (SOS) Materials using the Pseudo-MOSFET Technique
Hefyene, N. ; Cristoloveanu, S. ; Ghibaudo, G. ; Matsui, M. ; Yasujima, A.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.133-138,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
6.

国際会議録
国際会議録
6. Characterization and modeling of low-frequency noise in sub-0.1 -pm SiGe pMOSFETs
Romanjek, K. ; Chroboczek, J. A. ; Ghibaudo, G. ; Ernst, T.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.496-506,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
7.

国際会議録
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7. Direct extraction of McWhorter's constant from LFN spectra of MOSFETs with planar layers of Si nanocrystals embedded in gate SiO2
Ferraton, S. ; Zimmermann, J. ; Montres, L. ; Ghibaudo, G. ; Brini, J. ; Gurgul, J. ; Chroboczek, J. A.
出版情報: Noise in devices and circuits II : 26-28 May 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.560-565,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5470
8.

国際会議録
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8. ELECTRICAL ACTIVATION OF HEAVILY DOPED ARSENIC IMPLANTED SILICON
Said, J. ; Jaouen, H. ; Ghibaudo, G. ; Stoemenos, I. ; Zaumseil, P.
出版情報: Processing and characterization of materials using ion beams : symposium held November 28-December 2, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.599-604,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 128
9.

国際会議録
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9. DEFECTS CHARACTERIZATION OF ARSENIC IMPLATED SILICON BY AC HALL EFFECT MEASUREMENTS
Jaouen, H. ; Ghibaudo, G. ; Christofides, C.
出版情報: Materials issues in silicon integrated circuit processing : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.167-172,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 71
10.

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10. *Challenges in interface trap characterization of deep sub-micron MOS devices using charge pumping techniques
Autran, J. L. ; Masson, P. ; Ghibaudo, G.
出版情報: Structure and electronic properties of ultrathin dielectric films on silicon and related structures : symposium held November 29-December 1, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.275-,  2000.  Warrendale, PA.  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 592