1.

国際会議録

国際会議録
Weber, M.H. ; Gessmann, Th. ; Lynn, K.G. ; Crandall, R.S. ; Yang, J. ; Guha, S.
出版情報: Photovoltaics for the 21st century II : proceedings of the international symposium.  pp.293-301,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-10
2.

国際会議録

国際会議録
Gessmann, Th. ; Li, Y.-L. ; Graff, J.W. ; Schubert, E.F. ; Sheu, J.K.
出版情報: GaN and related alloys - 2001 : symposium held November 26-30, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.719-724,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 693
3.

国際会議録

国際会議録
Xi, Y. ; Xi, J. -Q. ; Gessmann, Th. ; Shah, J. M. ; Kim, J. K. ; Schubert, E. F. ; Fischer, A. J. ; Crawford, M. H. ; Bogart, K. H. A. ; Allerman, A. A.
出版情報: GaN, AIN, InN and their alloys : symposium held November 29-December 3, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.37-42,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 831
4.

国際会議録

国際会議録
Chhajed, S. ; Xi, Y. ; Gessmann, Th. ; Xi, J.-Q. ; Shah, J.M. ; Kim, J.K. ; Schubert, E.F.
出版情報: Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications IX.  pp.16-24,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5739
5.

国際会議録

国際会議録
Gessmann, Th. ; Li, Y.-L. ; Schubert, E.F. ; Graff, J.W. ; Sheu, J.K.
出版情報: Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications VII.  pp.139-144,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4996
6.

国際会議録

国際会議録
Gessmann, Th. ; Schubert, E.F. ; Graff, J.W. ; Streubel, K.P.
出版情報: Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications VII.  pp.26-39,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4996