1.

国際会議録

国際会議録
Gerlach, P. ; Hahn, P.O. ; Schnegg, A. ; Alpern, A. ; Menzel, G.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.267-272,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138
2.

国際会議録

国際会議録
Gerlach, P. ; Peschke, M. ; Wenger, T. ; Saravanan, K. B. ; Hanke, C. ; Lorch, S. ; Michalzik, R.
出版情報: Integrated Optics, Silicon Photonics, and Photonic Integrated Circuits.  pp.61830J-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6183