1.

国際会議録
国際会議録
1. PHOTOREFLECTANCE CHARACTERIZATION OF InGaAs LATTICE MATCHED TO InP
Bellani, V. ; Amiotti, M. ; Geddo, M. ; Guizzetti, G. ; Landgren, G.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.225-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324
2.

国際会議録
国際会議録
2. Photoreflectance investigation of InAs/GaAs self-assembled quantum dots grown by ALMBE
Geddo, M. ; Ferrini, R. ; Guizzetti, G. ; Patrini, M. ; Franchi, S.
出版情報: Self-organized processes in semiconductor alloys : symposium held November 29-December 2, 1999 Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.99-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 583
3.

国際会議録
国際会議録
3. Optical characterization of hierarchically self-assembled GaAs/AlGaAs quantum dots
Marabelli, F. ; Rastelli, A. ; Schmidt, O. G. ; Beaurin, G. ; Geddo, M. ; Guizzetti, G.
出版情報: Progress in compound semiconductor materials -- electronic and optoelectronic applications.  pp.43-48,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 829
4.

国際会議録
国際会議録
4. Optical study of strain-driven tuning of the emission energy in InAs/InGaAs quantum-dot nanostructures
Geddo, M. ; Guizzetti, G. ; Bellani, V. ; Patrini, M. ; Ciabattoni, T. ; Seravalli, L. ; Frigeri, P. ; Minelli, M. ; Franchi, S.
出版情報: Nanoscale devices, materials, and biological systems : fundamentals and applications : proceedings of the international symposium.  pp.373-390,  2005.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-13
5.

国際会議録
国際会議録
5. Photoreflectance Study of Hydrogenated (InGa)(AsN)/GaAs Heterostructures
Geddo, M. ; Guizzetti, G. ; Pezzuto, R. ; Polimeni, A. ; Capizzi, M. ; Bissiri, M. ; Baldassarri, G. ; Hogersthal, Hoger von ; Gollub, D. ; Forchel, A.
出版情報: Progress in semiconductors II : electronic and optoelectronic applications : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.531-536,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 744
6.

国際会議録
国際会議録
6. Optical Characterization of AlxGa1-xSb/GaSb Epitaxial Layers
Lernia, S. di ; Geddo, M. ; Guizzetti, G. ; Patrini, M. ; Bosacchi, A. ; Franchi, S. ; Magnanini, R.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.389-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 406