1.

国際会議録
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1. B4C/Mo/Si multilayers for 20-40 nm wavelengths: application to broadband mirrors [5963-68]
Delmotte, F. ; Gautier, J. ; Roulliay, M. ; Ravet, M. F. ; Bridou, F. ; Jerome, A.
出版情報: Advances in optical thin films II : 13-15 September 2005, Jena, Germany.  pp.59631V-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5963
2.

国際会議録
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2. Performances and stability of Sc/Si multilayers with barrier layers for wavelengths around 46 nm [5963-33]
Gautier, J. ; Demotte, F. ; Roulliay, M. ; Ravet, M. ; Bridou, F. ; Jerome, A. ; Giglia, A. ; Nannorone, S.
出版情報: Advances in optical thin films II : 13-15 September 2005, Jena, Germany.  pp.59630X-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5963
3.

国際会議録
国際会議録
3. Single and Few Electron Devices. Integration Trends*
Gautier, J.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.263-265,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-6
4.

国際会議録
国際会議録
4. Evolution of self-heating effects on current and future SOI technologies
Yachou, D. ; Gautier, J.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.304-311,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
5.

国際会議録
国際会議録
5. Architectures comparison for ultra-thin fully-depleted submicron SOI MOSFErs
Faynot, O. ; Giffard, B. ; Raynaud, C. ; Gautier, J.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.453-458,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
6.

国際会議録
国際会議録
6. Characterization of MOEMS devices for the instrumentation of next generation space telescope
Zamkotsian, F. ; Gautier, J. ; Lanzoni, P.
出版情報: Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS II.  pp.324-332,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4980
7.

国際会議録
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7. MEMS-based slit generator for NGST-NIRMOS: modeling and characterization
Zamkotsian, F. ; Gautier, J. ; Lanzoni, P. ; Dohlen, K.
出版情報: IR Space Telescopes and Instruments.  Part One  pp.527-534,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4850