1.

国際会議録
国際会議録
1. High-spectral-purity VCSELs for spectroscopy and sensors
Zappe,H.P. ; Sopra,F.M.di ; Gauggel,H.-P. ; Gulden,K.H. ; Hovel,R. ; Moser,M.
出版情報: Laser diodes and leds in industrial, measurement, imaging, and sensors applications II : testing, packaging, and reliability of semiconductor lasers V : 26-25 January 2000, San Jose, California.  pp.106-116,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3945
2.

国際会議録
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2. Toward terabit/s input to silicon VLSI:a demonstrator experiment
Walker,A.C. ; Fancey,S.J. ; Forbes,M.G. ; Buller,G.S. ; Taghizadeh,M.R. ; Desmulliez,M.P.Y. ; Dines,J.A.B. ; Stanley,C.R. ; Pennelli,G. ; Boyd,A. ; Pearson,J.L. ; Horan,P.G. ; Byrne,D. ; Hegarty,J. ; Gauggel,H.-P. ; Gulden,K.H. ; Gauthier,A. ; Benabes,P. ; Gutzwiller,J.L.
出版情報: Optics in computing 2000 : 18-23 June 2000, Quebec city, Canada.  pp.460-464,  2000.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4089
3.

国際会議録
国際会議録
3. VCSEL arrays
Hunziker,S.G. ; Eitel,S. ; Gulden,K.H. ; Moser,M. ; Hovel,R. ; Gauggel,H.-P. ; Brunner,M.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers V.  pp.119-126,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4286