1.

国際会議録
国際会議録
1. Integrating 2D and 3D data for diagnostics of panel paintings (Invited Paper)
Fontana, R. ; Gambino, M.C. ; Greco, M. ; Marras, L. ; Materazzi, M. ; Pampaloni, E. ; Pezzati, L. ; Poggi, P.
出版情報: Optical Metrology for Arts and Multimedia.  pp.88-98,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5146
2.

国際会議録
国際会議録
2. Time-of-flight laser scanner for architectural and archaeological applications
Fontana, R. ; Gambino, M.C. ; Gianfrate, G.G. ; Greco, M. ; Marras, L. ; Materazzi, M. ; Pampaloni, E. ; Pezzati, L.
出版情報: Optical Metrology for Arts and Multimedia.  pp.185-193,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5146
3.

国際会議録
国際会議録
3. High-resolution 3D digital models of artworks (Invited Paper)
Fontana, R. ; Gambino, M.C. ; Greco, M. ; Pampaloni, E. ; Pezzati, L. ; Scopigno, R.
出版情報: Optical Metrology for Arts and Multimedia.  pp.34-43,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5146
4.

国際会議録
国際会議録
4. High-precision surface analysis of the roughness of Michelangelo's David
Fontana, R. ; Gambino, M.C. ; Greco, M. ; Marras, L. ; Materazzi, M. ; Pampaloni, E. ; Pezzati, L.
出版情報: Optical Metrology for Arts and Multimedia.  pp.236-243,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5146
5.

国際会議録
国際会議録
5. New high-resolution IR-color reflectography scanner for painting diagnosis
Fontana, R. ; Gambino, M.C. ; Greco, M. ; Marras, L. ; Materazzi, M. ; Pampaloni, E. ; Pezzati, L. ; Poggi, P.
出版情報: Optical Metrology for Arts and Multimedia.  pp.108-115,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5146