1.

国際会議録
国際会議録
1. Germanium: The Past and Possibly a Future Material for Microelectronics
D.P. Brunco ; B. De Jaeger ; G. Eneman ; A. Satta ; V. Terzieva
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics 5.  pp.479-493,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(4)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Diode Analysis of Electrically Active Defects in Recessed SiGe Source/Drain Diodes
E.R. Simoen ; M.B. Gonzalez ; G. Eneman ; P. Verheyen ; C.L. Claeys
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.655-665,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Combination of Embedded Si1-xGex S/D and Metal Gate Options for High Performance pMOS Transistors
P. Verheyen ; S. Severi ; G. Eneman ; R. Loo ; D. Shamiryan
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.697-711,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
4.

国際会議録
国際会議録
4. Electrical Activity of Dislocations and Defects in Strained Si and Ge Based Devices
E.R. Simoen ; G. Eneman ; P. Verheyen ; R. Loo ; M. Bargallo Gonzalez
出版情報: SiGe, Ge, and Related Compounds 3: Materials, Processing, and Devices.  pp.513-527,  2008.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(10)
5.

国際会議録
国際会議録
5. Defect Engineering Considerations for Strained Silicon Substrates
C. Claeys ; G. Eneman ; M. Scholz ; R. Loo ; P. Verheyen ; K. De Meyer ; E. R. Simoen
出版情報: Silicon materials science and technology X.  pp.349-362,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(2)
6.

国際会議録
国際会議録
6. Electrical Performance and Reliability Aspects of Strain Engineered Deep Submicron CMOS Technologies
C. Claeys ; G. Eneman ; M. Bargallo Gonzalez ; S. Put ; E. Simoen
出版情報: 2007 International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Scale Integrated Circuits and Thin Film Transistors (ULSIC vs. TFT).  pp.15-22,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 8(1)