1.

国際会議録
国際会議録
1. Microwave Dielectric Loss Characterization of Silicon Carbide Wafers
Bogart, T. ; Everson, B. ; Gamble, R.D. ; Oslosky, E. ; Snyder, D.W. ; Furman, E. ; Perini, S. ; Lanagan, M.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.733-738,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. High-Temperature, High Power Capacitors: the Assessment of Capabilities.
Furman, E. ; Zhang, S. ; Kim, N. ; Shrout, T.R. ; Hofmann, H.
出版情報: 2008 Power Systems Conference : SAE technical paper.  2008.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2008