1.

国際会議録
国際会議録
1. Nondestructive damage evaluaion of electro-mechanical components using a hybrid, computational and experimental approach
Furlong, C. ; Pryputniewicz, R. J.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.111-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
2.

国際会議録
国際会議録
2. Optomechanical characterization of proton-exchange membrane fuel cells
Jalani, N.H. ; Mizar, S.P. ; Choi, P. ; Furlong, C. ; Datta, R.
出版情報: Interferometry XII: Applications.  pp.316-325,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5532
3.

国際会議録
国際会議録
3. Novel optoelectronic methodology for testing MOEMS (Invited Paper)
Pryputniewicz, R.J. ; Furlong, C.
出版情報: MOEMS and Miniaturized Systems III.  pp.11-25,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4983
4.

国際会議録
国際会議録
4. Sensitivity, accuracy, and precision issues in opto-electronic holography based on fiber optics and high-spatial- and high-digitial-resolution cameras
Furlong, C. ; Yokum, J.S. ; Pryputniewicz, R.J.
出版情報: Interferometry XI: Techniques and Analysis.  pp.77-84,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4777
5.

国際会議録
国際会議録
5. Speckle noise reduction in quantitative optical metrology techniques by application of the discrete wavelet transformation
Furlong, C. ; Pryputniewicz, R.J.
出版情報: Interferometry XI: Techniques and Analysis.  pp.271-278,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4777
6.

国際会議録
国際会議録
6. Study and characterization of a MEMS micromirror device
Furlong, C. ; Pryputniewicz, R.J.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.54-63,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531
7.

国際会議録
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7. Characterization of shape and deformation of MEMS by quantitative optoelectronic metrology techniques
Furlong, C. ; Pryputniewicz, R.J.
出版情報: Interferometry XI: Applications.  pp.1-10,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4778
8.

国際会議録
国際会議録
8. Quantitative optical metrology with CMOS cameras (Invited Paper)
Furlong, C. ; Kolenovic, E. ; Ferguson, C.F.
出版情報: Interferometry XII: Applications.  pp.1-15,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5532
9.

国際会議録
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9. New optoelectronic methodology for nondestructive evaluation of MEMS at the wafer level
Furlong, C. ; Ferguson, C.F. ; Melson, M.J.
出版情報: Two- and Three-Dimensional Vision Systems for Inspection, Control, and Metrology.  pp.69-78,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5265