1.

国際会議録
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1. Classification of multispectral images using hierarchical random fields
Futatsugi,H. ; Fujimura,S.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing IV : 21-23 September 1998, Barcelona, Spain.  pp.172-179,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3500
2.

国際会議録
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2. Automated registration method with disparity detection for remotely sensed multispectral images
Hanaizumi,H. ; Kanemoto,Y. ; Fujimura,S.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing III : 23-25 September 1996, Taormina, Italy.  pp.2-8,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2955
3.

国際会議録
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3. Design method of triplet decision tree classifier with division-wait mechanism
Yoshikawa,M. ; Fujimura,S. ; Tanaka,S. ; Nishii,R.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing III : 23-25 September 1996, Taormina, Italy.  pp.52-62,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2955
4.

国際会議録
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4. Automated registration method to correspond control point pairs with subpixel accuracy
Hanaizumi,H. ; Kinugawa,Y. ; Fujimura,S.
出版情報: Image processing, signal processing, and synthetic aperture radar for remote sensing : 22-26 September 1997, London, UK.  Part 2  pp.217-222,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3217
5.

国際会議録
国際会議録
5. Algorithm for the estimation of oceanic chlorophyll concentration from hyperspectral data through purpose-oriented feature extraction
Fujimura,S. ; Kiyasu,S.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing V : 22-24 September 1999, Florence, Italy.  pp.20-23,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3871
6.

国際会議録
国際会議録
6. Thermal stability of hydrogen molecule in crystalline silicon
Fukata,N. ; Murakami,K. ; Ishioka,K. ; Nakamura,K.G. ; Kitajima,M. ; Fujimura,S. ; Kikuchi,J. ; Haneda,H.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.211-216,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
7.

国際会議録
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7. Hydrogen molecules in crystalline silicon.(Invited)
Kitajima,M. ; Ishioka,K. ; Nakarnura,K.G. ; Fukata,N. ; Murakami,K. ; Kikuchi,J. ; Fujimura,S.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.203-210,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
8.

国際会議録
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8. Sereening Effect of Binding of P-Si-H:Complex in Silicon
Pukata,N. ; Fujimura,S. ; Murakami,K.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.873-878,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
9.

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9. Trapping site of hydrogen molecule in crystalline silicon
Ishioka,K. ; Nakamura,K.G. ; Kitajima,M. ; Fukata,N. ; Murakami,K. ; Fujimura,S. ; Kikuchi,J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.235-240,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
10.

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10. Fast method for unwrapping InSAR raw interferogram
Hanaizumi,H. ; Kagawa,M. ; Fujimura,S.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing V : 22-24 September 1999, Florence, Italy.  pp.63-70,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3871